LGA52下压弹片老化座 测试座
LGA52空座/座头测试座老化座测试架编程座适配座LGA52
产品特点及性能参数：
※ 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH；
※ 配不同的主控板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换！。
※ 专利设计的转换板可以实现LGA与TSOP主控板共用，即同一款主控板只要换座头既可测LGA，也可以测TSOP的FLASH芯片；
※ 采用一拖四架构设计，省去外置HUB，每台电脑可同时量产16PCS Flash 芯片，效率倍增；
※ 测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10倍以上；并且探针可更换，维修方便，成本低
※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，***IC的压力均匀，不移位；
※ 高精度的定位槽，***LGA定位***，生产效***；
※ 整机24小时工作性能稳定可靠，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手！
※ 探针材料：铍铜(标准)；
※ 绝缘材料：FR-4、PPS等；
※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）；
※ 交货快：最快一天内交货。
高清实图：
