深圳凯智通eMCP测试夹具详细介绍
产品名称:eMCP翻盖合金探针转SD卡测试座
此款eMCP162/186测试座为探针翻盖式,可以兼容不同规格的eMCP芯片,我们会为您配备常用的两种规格的限位框:12*16,11.5*13,您可以根据芯片自行更换限位框
产品特性:
1、 采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效***;
2、 上盖的IC压板采用弹压式结构,能自动调节下压力,***IC的压力均匀;
3、 采用全镀硬金铍铜探针,不易氧化,使用寿命长(探针机械周期30万次);
4、 探针自适能力强,对于BGA IC有球、无球、残球、锡球不均的IC都能精准接触,***测试准确;
5、 高精度的IC定位槽或导向孔,IC放放置准确方便,生产效***;
6、 IC定位槽可更换,一个测试座可兼容各种尺寸的同款芯片;
7、 探针可更换,维修方便,成本低;
8、 外壳材质为铝合金,钻孔层材料为TORLON,***耐用。